हाल ही में, चाइनीज एकेडमी ऑफ साइंसेज (सीएएस) के शंघाई इंस्टीट्यूट ऑफ ऑप्टिक्स एंड प्रिसिजन मशीनरी (एसआईपीएम) के प्रिसिजन ऑप्टिकल मैन्युफैक्चरिंग एंड इंस्पेक्शन सेंटर के शोधकर्ता वेई चाओयांग की एक टीम ने उच्च यूवी लेजर-क्षतिग्रस्त फ्यूज्ड सिलिका घटकों के निर्माण का एहसास किया है। CO2 लेजर के दोष लक्षण वर्णन और हटाने की प्रक्रिया पर। शोध के नतीजे लाइट: एडवांस्ड मैन्युफैक्चरिंग में प्रकाशित हुए थे।
फ़्यूज्ड सिलिका घटकों को यूवी लेजर-प्रेरित क्षति की समस्या ने उच्च-शक्ति लेजर प्रणालियों के विकास को गंभीर रूप से सीमित कर दिया है। वर्तमान संपर्क पीसने और चमकाने की प्रक्रिया में अनिवार्य रूप से प्रसंस्करण दोष होते हैं, जिन्हें प्रसंस्करण के बाद पूरी तरह से हटाया जाना मुश्किल होता है, जिससे जुड़े सिलिका घटकों के प्रदर्शन और जीवनकाल में काफी कमी आती है।
माइक्रोसेकंड स्पंदित लेजर लो-स्ट्रेस यूनिफॉर्म एब्लेशन तकनीक के आधार पर, अनुसंधान टीम ने उपसतह दोषों को चिह्नित करने के लिए एक लेजर क्रोमैटोग्राफी एब्लेशन विधि का प्रस्ताव रखा, और इसे पीसने के चरण में उपसतह दोषों को पूरी तरह से हटाने के लिए सामग्रियों को तेजी से हटाने के लिए जोड़ा। बाद में, लेज़र कंफर्मल क्लीनिंग विधि का उपयोग पृथक सतह पर पुनः जमा हुए दूषित पदार्थों को साफ करने के लिए किया गया था, और लेज़र मेल्ट पॉलिशिंग का उपयोग एब्लेशन प्रक्षेपवक्र को सुचारू करने के लिए किया गया था, जिससे फ़्यूज्ड सिलिका घटकों के CO2 लेज़र पूर्ण-लिंक लचीले प्रसंस्करण का एहसास हुआ। पारंपरिक प्रक्रिया की तुलना में, CO2 लेजर प्रसंस्करण लिंक प्रसंस्करण दोषों की शुरूआत को प्रभावी ढंग से रोक सकता है और इस प्रकार उच्च क्षति सीमा के साथ जुड़े सिलिका घटकों की तैयारी का एहसास कर सकता है। प्रस्तावित लेजर-आधारित दोष लक्षण वर्णन और निष्कासन विधि उपसतह दोषों के अध्ययन और दमन रणनीतियों के निर्माण के लिए एक नया उपकरण प्रदान करती है, और जुड़े सिलिका घटकों के कम-दोष प्रसंस्करण के लिए एक नया विचार भी प्रदान करती है।
इस कार्य को चीन के राष्ट्रीय प्रमुख अनुसंधान और विकास कार्यक्रम, शंघाई यांगफान कार्यक्रम, राष्ट्रीय प्राकृतिक विज्ञान युवा कोष, शंघाई प्राकृतिक विज्ञान फाउंडेशन, खगोल विज्ञान संयुक्त कोष और चीनी विज्ञान अकादमी के यंग इनोवेशन प्रमोशन एसोसिएशन द्वारा समर्थित किया गया था।
शंघाई इंस्टीट्यूट ऑफ ऑप्टिक्स एंड मैकेनिक्स (एसआईओएम) में यूवी लेजर क्षति के लिए उच्च प्रतिरोध के साथ फ्यूज्ड सिलिका घटकों के लेजर-सहायता निर्माण में प्रगति
चित्र 1 (ए) पारंपरिक प्रक्रिया लिंक; (बी) CO2 लेजर प्रसंस्करण लिंक; (सी) 3डी पूर्ण-कैलिबर उपसतह दोष लक्षण वर्णन विधि
एसआईपीएम में उच्च यूवी लेजर क्षति प्रतिरोध के साथ जुड़े सिलिका घटकों के लेजर-सहायता निर्माण में प्रगति।
चित्र 2 पारंपरिक और लेजर-आधारित नमूनों के बीच क्षति प्रदर्शन की तुलना: (ए) 1-ऑन{3}} क्षति संभावना (355 एनएम, 8.3 एनएस); (बी) विशिष्ट क्षति आकृति विज्ञान।
